X射線鍍層測厚儀XULM 240
硬件:用于鍍層厚度測量和材料分析的X-射線熒光測量系統(tǒng)。
配備微聚焦射線管,手動X-Y軸工作臺,
4個電機(jī)驅(qū)動的視準(zhǔn)器組,
尺寸分別為:
圓形直徑0.1/0.2方形0.05×0.05mm
和槽型0.03×0.2mm。
配備3種可切換的濾波器,
以達(dá)到*佳的測量靈敏度。
X-射線由下往上。
高清晰度彩色攝像頭。
計算機(jī)系統(tǒng):
英特爾處理器,預(yù)裝Win10
以及WinFTM測量軟件
19英寸彩色液晶顯示器
12純元素片:
(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)
儀器安裝:維修工程師現(xiàn)場安裝調(diào)試與培訓(xùn)。